Le réseau Electronique du Grand Réseau de Recherche Energie, Electronique et Matériaux de la région Haute Normandie a le plaisir de vous inviter à sa journée Thématique "Fiabilité des Composants électroniques face aux perturbations transitoires (ESD et EOS)" animée par des experts industriels et académiques.
L’objectif de cette journée est de faire un focus sur les perturbations transitoires de types ESD et EOS qui sont des causes majeures de défaillance des composants électroniques. Les aspects : conception, essais, modélisation et analyses de défaillance seront présentés sur des cas pratiques de composants dans différentes applications.
La journée se déroulera le mardi 16 septembre de 9h30 à 17h dans les locaux de l'ESIGELEC-IRSEEM, au CISE (Campus Intégration Systèmes Embarqués). Un repas vous sera proposé le midi, sur inscription gratuite mais obligatoire. Pour faciliter notre organisation, merci de vous inscrire avant le 11 septembre 2014.
Le programme détaillé vous sera communiqué ultérieurement, mais vous pouvez d'ores et déjà voir le titre des présentations techniques : programme.
